简要描述：KLA Filmetrics F40薄膜厚度测量仪通过将显微镜转变为薄膜测量工具，实现小至1微米光斑的厚度和折射率测量。该设备配备集成彩色摄像机，可在1秒内完成测量，并且支持多种型号以适应不同厚度和波长范围的需求。用户只需将其连接至Windows计算机并通过USB端口操作即可。此外，F40系列提供全面的技术支持和材料库，方便用户进行精确测量。
产物型号：
所属分类：薄膜厚度测量仪
更新时间：2025-03-10
厂商性质：生产厂家
KLA Filmetrics F40薄膜厚度测量仪产物系列用于测量小到 1 微米的光斑。 对大多数显微镜而言KLA Filmetrics F40薄膜厚度测量仪能简单地固定在 c 型转接器上，这样的转接器是显微镜行业标准配件。
F40 配备的集成彩色摄像机，能够对测量点进行准确监控。 在 1 秒钟之内就能测定厚度和折射率。 像我们所有的台式仪器一样，F40 需要连接到您装有 Windows 计算机的 USB 端口上并在数分钟内完成设定。
集成光谱仪/光源装置
FILMeasure 8 软件
FILMeasure 独立软件 (用于远程数据分析)
MA-Cmount 安装转接器 显微镜转接器
光纤连接线
BK7 参考材料
TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度标准 聚焦/厚度标准
叠骋-惭颈肠谤辞蝉肠辞辫别&苍产蝉辫;(作为背景基准)
| 型号 | 厚度范围 | 波长范围 |
| F40 | 20苍尘-40μ尘 | 400-850nm |
| F40-EXR | 20苍尘-120μ尘 | 400-1700nm |
| F40-NIR | 40苍尘-120μ尘 | 950-1700nm |
| F40-UV | 4苍尘-40μ尘 | 190-1100nm |
| F40-UVX | 4苍尘-120μ尘 | 190-1700nm |
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