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  • KLA Alpha-Step® D-600探针式轮廓仪
    KLA Alpha-Step® D-600探针式轮廓仪

    半导体薄膜生长表面检测KLA Alpha-Step® D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到 1200微米的2D和3D台阶高度。D-600 还支持2D和3D的粗糙度测量,以及用于研发和生产环节的2D翘曲度和应力测量。D-600 包含一个带有200 毫米样品载台的电动样品台和具有增强影像控制的高级光学器件。

    更新时间:2025-03-17型号:浏览量:469
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