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4200A-SCS 半导体参数分析仪

简要描述:4200A-SCS 半导体参数分析仪是一款可定制且集成的参数分析仪,能同步提供电流 – 电压(I-V)、电容 – 电压(C-V)以及超快速脉冲式 I-V 表征的深度洞察。作为性能顶尖的参数分析仪,4200A-SCS 可加速半导体、材料及工艺的研发进程。4200A-SCS 搭载的 Clarius™图形用户界面(GUI)软件,具备清晰、无妥协的测量与分析能力。

产物型号:

所属分类:4200A-SCS 参数分析仪

更新时间:2025-08-15

厂商性质:生产厂家

详情介绍

见证您的创新变为现实

 

4200A-SCS 是一款可定制且集成的参数分析仪,能同步提供电流 – 电压(I-V)、电容 – 电压(C-V)以及超快速脉冲式 I-V 表征的深度洞察。作为性能顶尖的参数分析仪,4200A-SCS 可加速半导体、材料及工艺的研发进程。

4200A-SCS 搭载的 Clarius™图形用户界面(GUI)软件,具备清晰、无妥协的测量与分析能力。该软件内置专业测量知识与数百项即用型应用测试,助力您快速、自信地深入探索研究。

4200A-SCS 参数分析仪具备的可定制性和可升级性,您可根据需求随时(无论现在或将来)添加所需仪器。借助 4200A-SCS 参数分析仪,与重大发现的连接从未如此轻松。


4200A-SCS 半导体参数分析仪


 

 

核心性能规格


I-V 源测量单元(SMUs)


  • ±210 V/100 mA 或 ±210 V/1 A 模块

  • 100 fA 测量分辨率

  • 搭配可选前置放大器时,测量分辨率可达 10 aA

  • 10 mHz – 10 Hz 超低频电容测量

  • 100 µF 负载电容

  • 四象限运行

  • 支持 2 线或 4 线连接


4200A-SCS 半导体参数分析仪


C-V 多频电容单元(CVUs)


  • 交流阻抗测量(颁-痴、颁-蹿、颁-迟)

  • 1 kHz – 10 MHz 频率范围

  • 内置 ±30 V 直流偏置(差分 60 V),可扩展至 ±210 V(差分 420 V)

  • 搭配可选 CVIV 多开关模块,可在 I-V 与 C-V 测量间轻松切换


4200A-SCS 半导体参数分析仪



脉冲式 I-V 超快速脉冲测量单元(PMU)


  • 两个独立或同步的高速脉冲 I-V 源与测量通道

  • 200 MS/s 采样率,5 ns 采样间隔

  • ±40 V(80 V 峰峰值),±800 mA

  • 瞬态波形捕获模式

  • 任意波形发生器,支持多电平脉冲波形,可编程分辨率为 10 ns


高压脉冲发生器单元(笔骋鲍)


  • 两个高速脉冲电压源通道

  • ±40 V(80 V 峰峰值),±800 mA

  • 任意波形发生器 Segment ARB® 模式,支持多电平脉冲波形,可编程分辨率为 10 ns


4200A-SCS 半导体参数分析仪



I-V/C-V 多开关模块(CVIV)


  • 无需重新布线或抬起探针,即可在 I-V 与 C-V 测量间切换

  • 无需重新布线或抬起探针,即可将 C-V 测量切换至任意端子

  • 支持 ±210 V 直流偏置


远程前置放大器 / 开关模块(RPM)


  • 自动在 I-V、C-V 与超快速脉冲式 I-V 测量间切换

  • 将 4225-PMU 的电流灵敏度扩展至数十皮安(pA)

  • 降低电缆电容影响


4200A-SCS 半导体参数分析仪




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