简要描述:KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪通过同时测量反射和透射光谱,实现真空镀膜的快速、精确分析。该设备价格合理,具备分析、FWHM确定及颜色分析功能,并可通过选配模块扩展其厚度和折射率测量能力。配备FILMeasure 8软件和多种参考材料,支持多种薄膜类型,覆盖从紫外到近红外的宽波长范围,提供高效的测量结果输出及全面的技术支持服务。
产物型号:
所属分类:薄膜厚度测量仪
更新时间:2025-03-10
厂商性质:生产厂家
以真空镀膜为设计目标,KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分,用户就能进行分析、确定 FWHM 并进行颜色分析。
可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。
集成光谱仪/光源装置
FILMeasure 8 软件
BK7 参考材料
Si 参考材料
防反光板
镜头纸
型号 | 厚度范围 | 波长范围 |
F10-RT | 15苍尘-70μ尘 | 380-1050nm |
F10-RT-UV | 1苍尘-40μ尘 | 190-1100nm |
F10-RT-UVX | 1苍尘-150μ尘 | 190-1700nm |
F10-RT-NIR | 100苍尘-150μ尘 | 950-1700nm |
F10-RT-EXR | 15苍尘-150μ尘 | 380-1700nm |