简要描述:KLA Filmetrics F20台式薄膜厚度测量系统;经济实惠的膜厚仪系列在几秒钟内就能完成高精度的薄膜厚度测量。这些易于使用的仪器与智能软件和一系列附件和配置相结合,可提供最大的通用性,可测量厚度为 1 纳米至 3 毫米的薄膜。
产物型号:
所属分类:薄膜厚度测量仪
更新时间:2025-03-10
厂商性质:生产厂家
只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , KLA Filmetrics F20台式薄膜厚度测量系统已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上,我们每天从我们的客户学习更多的应用。
择您的KLA Filmetrics F20台式薄膜厚度测量系统主要取决於您需要测量的薄膜的厚度(确定所需的波长范围)
集成光谱仪/光源装置
FILMeasure 8 软件
FILMeasure 独立软件 (用于远程数据分析)
SS-3 样品平台 及對應 光纤电缆
参考材料
厚度标准
整平滤波器 (用于高反射基板)
备用灯
型号 | 厚度范围* | 波长范围 |
F20 | 15苍尘-70μ尘 | 380-1050nm |
F20-EXR | 15苍尘-250μ尘 | 380-1700nm |
F20-NIR | 100苍尘-250μ尘 | 950-1700nm |
F20-UV | 1苍尘-40μ尘 | 190-1100nm |
F20-UVX | 1苍尘-250μ尘 | 190-1700nm |
F20-XT | 0.2μ尘-450μ尘 | 1440-1690nm |
贵3-蝉齿系列 | 10μ尘-3尘尘 | 960-1580nm |